機器視覺
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MVS-729F 研祥慧視機器視覺檢測設備
MVS-729F，采用高效自主算法，由高性能工業控制器、高清工業相機陣列構成，有效的提高了生產效率與保障了產品的一致性，其具有如下特征
◆ 基于先進的軟件開發環境、高效自主圖形算法，安全、可靠
◆ 高性能工業控制器與工業相機陣列，檢測效率高、精度高
◆ 方便的維護艙門、推拉裝置和安全鎖
◆ 定制尺寸，適于生產現場與運輸
◆ 檢測液晶模組的點、線、面缺陷與外觀損傷
◆ 單項缺陷檢測算法達到毫秒級
◆ 檢測大尺寸液晶模組
◆ 可檢測Mura、漏光等業內高難度缺陷
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| 整體檢測時間，備注 | 6s | 4s | 3s | ||
| 點缺陷 | 單亮點 | √ | √ | √ | |
| 連亮點 | √ | √ | √ | ||
| 碎亮點 | √ | √ | |||
| 單暗點 | √ | √ | √ | ||
| 連暗點 | √ | √ | √ | ||
| 聚焦暗點 | √ | √ | |||
| 線缺陷 | 黑線 | √ | √ | ||
| 白條 | √ | √ | |||
| 線狀異物 | √ | √ | |||
| 面缺陷 | 黑團 | √ | √ | √ | |
| 白團 | √ | √ | √ | ||
| 氣泡 | V | ||||
| 凹痕 | √ | ||||
| 異物 | √ | √ | |||
| Mura | √ | √ | |||
| 漏光 | √ | √ | |||
| 外觀缺陷 | 破裂 | √ | |||
| 劃痕 | √ | ||||
| Logo | √ | ||||
| 功能缺陷 | 閃動 | √ | |||
| 網紋 | √ | ||||
| 亮線 | √ | √ | √ | ||
| 暗線 | √ | √ | √ | ||
| 功能不良 | √ | √ | √ | ||
| 注：如上“√”表示支持 | |||||
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